Svepelektronmikroskop

Från Wikipedia
Hoppa till: navigering, sök

Svepelektronmikroskop, Scanning electron microscope eller SEM är en typ av elektronmikroskop som skapar bilder av föremål genom att scanna det med en elektronstråle med ett rastermönster. Elektronerna interagerar med atomerna på föremålet vilket i sin tur sänder tillbaka signaler om föremålets yttopografi, sammansättning och andra egenskaper som exempelvis ledningsförmåga.